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            產品資料
            日本富士紅膠
            產品型號:NE7200H
            產品品牌:富士FUJI
            13543272580
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            詳細介紹

            日本富士紅膠Seal-glo NE7200H

            一、特征

            Seal-glo NE7200H 是用于固定芯片元件的粘合劑。是為了同時滿足點膠和塑網板(厚網版)印刷制程而開發的單組分加熱固化型環氧樹脂,無鹵素對應產品。日本富士紅膠NE7200H 是由以下成份的組成,環氧樹脂低聚物、環氧樹脂單體、硬化劑、填充劑、其它

            該產品具有以下特點:

            1).高速點膠時都不會拉絲,能夠保持安定的形狀

            2).具有良好的印刷性,塑網板印刷時不會發生拉絲和溢膠

            3).在高溫高濕的條件下,也具有優良的粘著性能

            4).屬于低溫固化紅膠,120℃×90秒也能獲得充分的粘著強度

            5).SealSeal-glo NE7200H是無鹵素應對產品

            二、富士無鹵素紅膠的物理特性數據

            項 目
            測 定 值
            比 重 
            1.25
            粘 度(25℃?5rpm)
            300Pa?s(300,000cps)
            搖變性指數 
             7.0
            吸 水 率
            0.50%
            玻璃轉移點(Tg)
            117℃
            線膨脹系數
            6.2×10-5 (Tg 以下)
            1.9×10-4 (Tg 以上)
            *以上是代表值,不是規格值。
            三、電氣特性 
            JIS K6911(熱硬化性塑料一般測試法)
            項 目 
            項 目 測 定 值
            體積抗阻值
            4.7×1016Ω?cm
            介電常數
            30KHz
            100KHz
            1MHz

            3.5

            3.5

            3.4

            介電正切
            30KHz
            100KHz
            1MHz
            0.015
            0.018
            0.02
            四、耐濕電氣特性試驗

            使用基板:JIS Z3197Ⅱ型梳型電極

            硬化條件:熱風爐中,基板溫度達到150℃后保持60sec.

            試驗條件:試驗Ⅰ:沸騰2小時

            -- 試 驗
            初期值
            5.90×10 14Ω
            處理后
            2.44×10 14Ω
            五、對各種芯片元件的接著強度
            芯片元件的種類
            開口部分的尺寸(mm)
            粘著強度N(kgf)
            1608C 0.45*1.0
            27(2.7)
            1608R 34(3.5)
            2125C 0.5*1.5
            71(7.3)
            2125R 63(6.4)
            試驗使用基板 :FR-4
            硬化條件 :在加熱板上加熱,當基板表面溫度達到140℃時,維持1分
            鐘加熱硬化
            強度測定 :用推力計沿元件的長軸方向進行強度測定
            六、日本富士紅膠NE7200H推薦溫度曲線

            尤其是大元件的實裝狀況不同,膠水實際受熱溫度會低于基板的表面溫度,因此可能需要更長的硬化時間。

            七、硬化率和接著強度 
            根據差示掃描量熱儀 DSC(Differential Scanning Calorimetry ),來測定在 140℃和 120℃的硬化條件下的反應時間和硬化率的推移。

            八、低溫固化時的粘著強度

            芯片元件的種類
            開口部分的尺寸(mm)  固化條件
            粘著強度N(kgf)
            1608C
            0.45*1.0
            100℃×4分
             10.6(1.1)
            110℃×4分
             10.4(1.1)
            120℃×4分
             10.8(1.1)
            2125C
            0.5*1.5
            100℃×4分
            36.1(3.7)
            110℃×4分
            35.6(3.6)
            120℃×4分
            38.3(3.9)

            試驗使用基板 :FR-4
            強度測定 :用拉力計沿元件的長軸方向進行強度測定

            粵公網安備 44030602001479號

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